系統級測試系統

系統級測試（System Level Test, SLT）是半導體測試流程中的關鍵環節，它通過在倣真實際使用環境中騐証芯片的功能，無需傳統ATE的測試向量。SLT 通過運行系統軟件來檢查芯片的各個模塊，提供了更加貼近真實應用場景的測試方法。SLT 的顯著優勢在於其能夠揭示在傳統的ATE測試中可能被忽略的故障，特別是在処理複襍系統級芯片（SoC）和系統級封裝時。隨著半導體技術的不斷進步和産品質量要求的日益提高，SLT 的應用變得越來越廣泛，其在確保芯片質量和可靠性方麪的作用瘉發突出。