TB7500
存儲芯片高集成高速測試量産方案
針對DRAM顆粒的量産老化測試系統,最高測試速率爲200 MHz/400Mbps
TL2900
高速大竝測DDR SLT測試機
支持高UPH高測試頻率的LPDDR SLT測試設備,內置態坦自研的豐富測試Pattern庫
TB7300
全新ATE架搆下的通用型低速老化測試系統
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定制化開發
工程定制服務
(全技術棧開發能力)
生産規劃
生産路線規劃服務
(從零到量産導入)
産線整體追溯
生産解決方案服務
(整體産線測試站點規劃)
正常時間支持
遠程支持 & 現場支持