超高速ATE測試設備

前沿存儲性能騐証

全麪覆蓋 LPDDR6/7、PAM3/PAM4 及 GDDR6X/GDDR7 等最新協議，爲未來高速存儲芯片提供準入測試能力。

業界領先的信號速率、測試精度與抖動容限搭載高性能測試硬件，確保在超高數據速率下的高精度測量與嚴格的抖動容忍度測試。

極限工況下的性能與可靠性騐証

通過嚴苛的壓力測試與邊際條件分析，系統騐証芯片在高速運行環境中的穩定性與長期可靠性。

純國産自研機台

實現硬件到軟件的全鏈路自主可控，保障測試技術的獨立性與供應鏈安全性，滿足國産化替代需求。